Зарегистрированный товарный знак
НАШИ УСЛУГИ
· Разработка электронного оборудования на заказ >>
НАША ПРОДУКЦИЯ
· Цифровые характериографы >>
· Приборы для лазерной отрасли >>
· Цифровые самописцы >>
и другое
НАШЕ УЧАСТИЕ В ОБЩЕСТВЕННОЙ ЖИЗНИ
11–13 марта 2020
Бизнес-миссия белорусских предприятий в Саратов, организованная АНО «Центр поддержки экспорта Саратовской области». На встрече ООО «Эрбий» с представителями Института Физики АН Белоруссии обсуждались технические аспекты исследований, которыми занимается институт. Достигнута договорённость о возможности использования опыта ООО «Эрбий» в создании диагностического оборудования для лазерной отрасли и высоковольтной техники
19–20 сентября 2013
VIII Саратовский салон изобретений, инноваций и инвестиций
Апрель 2012
Конкурс ЛАС 2012 года, получен диплом III стенени за проект «Эрбий-7150»
20–22 марта 2012
VII Саратовский салон изобретений, инноваций и инвестиций
2–5 ноября 2011
Участие в 8-й Международной оптикоэлектронной Выставке и Форуме в Китайской оптической долине (OVC EXPO' 2011)
6–7 апреля 2011
Участие в выставке инновационных разработок Первого Саратовского открытого Форума «Космос объединяет: инновации, инвестиции, модернизация» в Правительстве Саратовской области
23–25 марта 2011
VI Саратовский салон изобретений, инноваций и инвестиций (подробнее >>)
26 марта 2010
Участие в выставке инноваций в Правительстве Саратовской области
8–10 февраля 2010
V Саратовский салон изобретений, инноваций и инвестиций (подробнее >>)
4–6 февраля 2009
IV Саратовский салон изобретений, инноваций и инвестиций (подробнее >>)
14 апреля 2008
Участие в заседании рабочей группы (круглого стола) «Перспективы развития лазерных технологий в Саратове» в Министерстве промышленности Саратовской области
17 марта 2008
Конкурс ЛАС 2008 года, получен диплом I стенени за проект «Эрбий-7109»
5–7 декабря 2007
III Саратовский салон изобретений, инноваций и инвестиций (подробнее >>)
|
ЦИФРОВОЙ ХАРАКТЕРИОГРАФ (ИСПЫТАТЕЛЬ) «ЭРБИЙ-7107» для полупроводниковых двухполюсников
Отзыв заведующего кафедрой физики полупроводников СГУ, д.т.н., профессора Б.Н. Климова
Характериограф «Эрбий»-7107, производства ООО «Эрбий» (г. Саратов), был приобретен кафедрой физики полупроводников Саратовского государственного университета для измерения статических вольт-амперных характеристик (ВАХ) структур типа «металл-диэлектрик-полупроводник» (МДП-структур), содержащих наноразмерные пленки. С учетом технических данных прибора и консультаций разработчика на кафедре был разработан и реализован специальный измерительный блок, подключаемый к характериографу. Последний, в свою очередь, был подключен к персональному компьютеру, на который была установлена прилагаемая программа «Характериограф 7107» для управления процессом измерений. Таким образом была получена автоматическая установка, обеспечивающая вышеописанные измерения.
К несомненным достоинствам характериографа «Эрбий-7107» следует отнести следующие:
·
высокая точность измерений (что подтверждено сравнением новых результатов с ранее полученными, а также тестированием стандартных приборов (резисторов, диодов));
·
удобство пользования программой «Характериограф 7107»;
·
возможность задания шага измерений;
·
возможность сразу видеть полученную зависимость на экране монитора (что позволяет сделать предварительную оценку результата измерения);
·
возможность распечатки полученных результатов напрямую из программы;
·
возможность сохранять численные значения полученных результатов в текстовый файл (что позволяет впоследствии с легкостью их обрабатывать и рассчитывать из них другие физические величины);
·
потенциальная возможность измерения ВАХ в зависимости от температуры, а также других зависимостей, таких как зависимость тока от освещенности (ЛАХ), фото-э.д.с. от освещенности (ЛВХ) и других.
В целом прибор отвечает необходимым требованиям и во многом облегчил работу в изучении ряда электрофизических свойств МДП-структур, содержащих наноразмерные пленки, которые в настоящее время являются объектом исследований на кафедре физики полупроводников СГУ.
Зав. кафедрой физики полупроводников, д.т.н., профессор Б.Н. Климов 11.01.08
Фото (нажмите, чтобы увеличить):
|
Отсканированный отзыв |
К описанию прибора
|