Главная  ·  Наши разработки  ·  Документация  ·  Контакты  ·  Партнёры

ЭРБИЙ

Зарегистрированный товарный знак

НАШИ УСЛУГИ

· Разработка электронного оборудования на заказ >>

НАША ПРОДУКЦИЯ

· Цифровые характериографы >>
· Приборы для лазерной отрасли >>
· Цифровые самописцы >>
и другое

 

Разработка программного обеспечения для микроконтроллеров на заказ

 

НАШЕ УЧАСТИЕ
В ОБЩЕСТВЕННОЙ ЖИЗНИ

19–20 сентября 2013

VIII Саратовский салон изобретений, инноваций и инвестиций

Апрель 2012

Конкурс ЛАС 2012 года, получен диплом III стенени за проект «Эрбий-7150»

20–22 марта 2012

VII Саратовский салон изобретений, инноваций и инвестиций

2–5 ноября 2011

Участие в 8-й Международной оптикоэлектронной Выставке и Форуме в Китайской оптической долине (OVC EXPO' 2011)

6–7 апреля 2011

Участие в выставке инновационных разработок Первого Саратовского открытого Форума «Космос объединяет: инновации, инвестиции, модернизация» в Правительстве Саратовской области

23–25 марта 2011

VI Саратовский салон изобретений, инноваций и инвестиций (подробнее >>)

26 марта 2010

Участие в выставке инноваций в Правительстве Саратовской области

8–10 февраля 2010

V Саратовский салон изобретений, инноваций и инвестиций (подробнее >>)

4–6 февраля 2009

IV Саратовский салон изобретений, инноваций и инвестиций (подробнее >>)

14 апреля 2008

Участие в заседании рабочей группы (круглого стола) «Перспективы развития лазерных технологий в Саратове» в Министерстве промышленности Саратовской области

17 марта 2008

Конкурс ЛАС 2008 года, получен диплом I стенени за проект «Эрбий-7109»

5–7 декабря 2007

III Саратовский салон изобретений, инноваций и инвестиций (подробнее >>)

 

ЦИФРОВОЙ ХАРАКТЕРИОГРАФ (ИСПЫТАТЕЛЬ) «ЭРБИЙ-7107»
для полупроводниковых двухполюсников

Отзыв заведующего кафедрой физики полупроводников СГУ, д.т.н., профессора Б.Н. Климова

Характериограф «Эрбий»-7107, производства ООО «Эрбий» (г. Саратов), был приобретен кафедрой физики полупроводников Саратовского государственного университета для измерения статических вольт-амперных характеристик (ВАХ) структур типа «металл-диэлектрик-полупроводник» (МДП-структур), содержащих наноразмерные пленки. С учетом технических данных прибора и консультаций разработчика на кафедре был разработан и реализован специальный измерительный блок, подключаемый к характериографу. Последний, в свою очередь, был подключен к персональному компьютеру, на который была установлена прилагаемая программа «Характериограф 7107» для управления процессом измерений. Таким образом была получена автоматическая установка, обеспечивающая вышеописанные измерения.

К несомненным достоинствам характериографа «Эрбий-7107» следует отнести следующие:

·   высокая точность измерений (что подтверждено сравнением новых результатов с ранее полученными, а также тестированием стандартных приборов (резисторов, диодов));

·   удобство пользования программой «Характериограф 7107»;

·   возможность задания шага измерений;

·   возможность сразу видеть полученную зависимость на экране монитора (что позволяет сделать предварительную оценку результата измерения);

·   возможность распечатки полученных результатов напрямую из программы;

·   возможность сохранять численные значения полученных результатов в текстовый файл (что позволяет впоследствии с легкостью их обрабатывать и рассчитывать из них другие физические величины);

·   потенциальная возможность измерения ВАХ в зависимости от температуры, а также других зависимостей, таких как зависимость тока от освещенности (ЛАХ), фото-э.д.с. от освещенности (ЛВХ) и других.

 

В целом прибор отвечает необходимым требованиям и во многом облегчил работу в изучении ряда электрофизических свойств МДП-структур, содержащих наноразмерные пленки, которые в настоящее время являются объектом исследований на кафедре физики полупроводников СГУ.

 

Зав. кафедрой физики полупроводников,
д.т.н., профессор
Б.Н. Климов
11.01.08

 

Фото (нажмите, чтобы увеличить):

 

Отсканированный отзыв

 

К описанию прибора

 

Создание и обслуживание сайта: mcprogramming.ru  |  Хостинг: beget.ru